粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)是材料科學(xué)、制藥、化工、陶瓷、新能源等領(lǐng)域中評(píng)估粉體顆粒大小及分布的核心工具，其測(cè)試結(jié)果直接影響產(chǎn)品的流動(dòng)性、溶解性、反應(yīng)活性與性能。無(wú)論是激光衍射法、動(dòng)態(tài)光散射法還是篩分法，任何操作偏差或環(huán)境干擾都可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真。掌握粉體粒度測(cè)試系統(tǒng)的常見(jiàn)問(wèn)題解決方法，是確保測(cè)試結(jié)果科學(xué)、可靠、可重復(fù)的關(guān)鍵。
問(wèn)題一：測(cè)試結(jié)果重復(fù)性差或數(shù)據(jù)波動(dòng)大
原因分析：樣品分散不均、進(jìn)樣濃度不當(dāng)、背景信號(hào)異常或環(huán)境振動(dòng)。
解決方法：確保樣品充分干燥、無(wú)團(tuán)聚，使用超聲分散儀輔助分散（時(shí)間與功率需優(yōu)化）；調(diào)整遮光度至儀器推薦范圍（通常10%-20%）；每次測(cè)試前進(jìn)行背景校準(zhǔn)；將儀器置于防震臺(tái)，避免外界干擾。
問(wèn)題二：粒度分布曲線出現(xiàn)異常峰或雙峰
原因分析：樣品污染、分散介質(zhì)不匹配或系統(tǒng)內(nèi)有殘留顆粒。
解決方法：檢查分散液（如水、乙醇）是否純凈，使用前過(guò)濾（0.45μm濾膜）；清洗樣品池、循環(huán)泵與管路，避免前次樣品殘留；確認(rèn)粉體未受外來(lái)雜質(zhì)污染。
問(wèn)題三：儀器提示“遮光度過(guò)高”或“濃度過(guò)大”
原因分析：樣品加入量過(guò)多或分散不充分導(dǎo)致顆粒聚集。
解決方法：逐步減少樣品量，采用“少量多次”添加法；增強(qiáng)分散手段，如延長(zhǎng)超聲時(shí)間、添加適量分散劑（如六偏磷酸鈉）；對(duì)于易團(tuán)聚樣品，可降低進(jìn)樣速度。
問(wèn)題四：激光器報(bào)警或光路校準(zhǔn)失敗
原因分析：激光能量衰減、透鏡污染或光路偏移。
解決方法：檢查激光器使用時(shí)長(zhǎng)，超期需更換；用無(wú)塵布與專(zhuān)用清潔液擦拭準(zhǔn)直透鏡、傅里葉透鏡等光學(xué)元件；執(zhí)行系統(tǒng)自校準(zhǔn)程序，必要時(shí)聯(lián)系廠家進(jìn)行光路校正。
問(wèn)題五：濕法分散系統(tǒng)循環(huán)不暢或堵塞
原因分析：大顆粒未預(yù)篩、管路老化或泵體磨損。
解決方法：測(cè)試前用標(biāo)準(zhǔn)篩去除過(guò)大顆粒；定期檢查管路是否老化、變形；清洗泵腔，清除沉積物；更換磨損的葉輪或密封圈。
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